T-Ray 5000 SPG单点测厚系统可以直接测量多层物体各层的厚度，模块化的探头可以配置直测部件和适用于狭小负责结构的直角测量部件。测量技术本质上是可以不接触目标表面的，但为方便手持式测量，探头配备了辅助部件帮助使用者准确定位太赫兹射线焦点位置。便捷的触屏控制窗口可以方便的选择测量配置和工作模式。
SPG5201可以与任何T-Ray 5000太赫兹控制单元匹配使用。 TCU52XX 控制单元使用VGA和USB接口，可以使用扩展显示器和鼠标键盘进行操作。 控制单元由高性能太赫兹系统所必需的飞秒激光器、延迟器、数据采集系统和高速处理器等系统组成。单次波形采集时间为100ms，可以快速实现各层结构厚度测量。系统使用测量脉冲飞行时间进行厚度测量，可有效避免环境因素和操作因素产生的误差。
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特点：
l 紧凑的控制单元
l 方便的触屏控制
l 可显示三次测量结果
l 集成的数据处理器
l 符合人体工程学的触发按键
l 缆线可扩展至30米
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优势：
l 小型设备，可灵活部署
l 可选择预设测量模式
l 快速地多层结构测量
l 无需额外电脑
l 复杂位置的测量方案
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应用：
l 多层涂层及多层材料的单点厚度测量
l 基重和分层情况测试
l 检测成型结构与基材之间的粘结线
l 军工领域油箱涂层及机体表面涂层的测量
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