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综合薄膜测量软件

椭偏仪

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光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析，这些参数都被加载到SENTECH光谱反射测量软件中，使得能够根据Cauchy色散、Drude振荡给出的参数描述和拟合材料。
台式薄膜探针反射仪

椭偏仪

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FTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案，它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量，其精度低于0.3nm，膜厚范围在50 nm -25 µm。为了便于分光反射测量操作，该仪器包括了范围广泛的预定配方。
反射膜厚仪

椭偏仪

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反射膜厚仪RM 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近红外光谱范围。光学布局为光吞吐量优化，以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地测量n和k。精确的高度和倾斜特别适用于精确的单光束反射率测量，且测量非常稳定。
结合椭偏反射CER的SE 500adv

椭偏仪

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椭偏仪SE 500adv将激光椭偏仪和反射仪结合在一个系统中。这种组合允许零度反射法用于快速薄膜分析，并且允许透明膜以激光椭偏仪的亚埃精度将可测量的厚度范围扩展到25埃米，从而明确地确定厚度。
多角度激光椭偏仪

椭偏仪

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激光椭偏仪SE 400adv测量透明薄膜的厚度和折射率指数，具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用激光椭偏仪SE 400adv表征吸收膜特征
光谱椭偏仪软件

椭偏仪

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光谱椭偏软件SpectraRay/4 的设计基于直观的工作流程。因此，SpectraRay/4 包括具有两步动作(开始测量，结果)的测量处方模式和用于逐步数据分析的交互模式。SpectraRay/4 的综合软件包支持广义椭偏，穆勒矩阵，散射法(3D轮廓仪)、各向异性和建模
红外光谱椭偏仪

椭偏仪

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振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带，分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度
低成本高效益的光谱椭偏仪

椭偏仪

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SENpro椭偏仪是椭偏仪应用的智能解决方案。它具有角度计，入射角度步进值5°。操作简单，快速测量和直观的数据分析相结合，以低成本效益高的设计来测量单层和多层膜的厚度和光学常数。
光谱椭偏仪

椭偏仪

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SENresearch 4.0设计用于光谱椭偏仪，在宽的光谱范围从190nm（深紫外）到3,500 nm（近红外）。每一台SENresearch 4.0都是客户特定的椭偏光谱解决方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩阵、各向异性、广义椭偏、散射测量等。使用步进扫描分析器原理实现测量结果
手持式拉曼光谱仪

光谱成像

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适用对象 生医、食品、制药、化工、军警等产业之分析应用。
高光谱成像系统

光谱成像

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应用：1.生态保育帮手2.环境保护助手3.实时医疗诊断4.原生种植管理5.药品.科学研究6.矿产油气探勘7.搭载无人机8.高经济性林业9.水资源的掌控
致冷InGaAs近红外光光谱仪BTC263E

光谱仪

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Sol™ 2.6是高性价比线阵铟镓砷（InGaAs）阵列光谱仪，标配256元InGaAs阵列。检测器采用半导体三级致冷至-15℃，具备很高的光通量和宽的动态范围。Sol™ 2.6采用SMA905标准光纤接口，内建16位数字转换器，即插即用USB2.0数据传输接口，它具有内建自动降噪功能（Autozero），可自动降低噪声及其不均匀性，从而增加信噪比。
致冷InGaAs近红外光光谱仪BTC262A

光谱仪

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Sol™ 2.2A是B&W Tek推出的高性能线阵铟镓砷（InGaAs）阵列光谱仪，标配256元InGaAs阵列。检测器采用半导体三级致冷至-15℃，具备很高的光通量和宽的动态范围。Sol™ 2.2A具有内建自动降噪功能（Autozero），可自动降低噪声及其不均匀性，从而增加信噪比。Sol™ 2.2A采用SMA905标准光纤接口，内建16位数字转换器，即插即用USB2.0数据传输接口。
致冷InGaAs近红外光光谱仪BTC261P

光谱仪

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SolTM1.7为B&W Tek推出的高性能线阵TE致冷铟镓砷（InGaAs）阵列光谱仪，可选256元，512元（标配），或1024元。线阵铟镓砷检测器采用半导体致冷至-10℃，能有效降低暗噪声、增大检测器的动态范围以及提高检测限，这使得光谱仪可以用于更长积分时间下的检测，例如对于微弱信号的检测。SolTM1.7配备了优化的高速摄谱仪，采用SMA905标准光纤接口，并内建16 位数模转换器以及即插即用USB2.0数据传输接口。采用B&W Tek的操作软件，用户可选择高灵敏度或高动态范围模式。B&W Tek可根据用户的不同应用需要配置不同的光谱分辨率。SolTM1.7是许多近红外应用的理想配置。
背照式CCD分光光谱仪

光谱仪

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i-trometer™ 是B&W Tek推出的紫外-近红外增强响应的背照式CCD光谱仪，非常适合于宽动态范围及微弱信号的检测需求。像差校正的平场凹面全息光栅，优化的光学结构，使得i-trometer™ 具备极低的杂散光和优异的光通量。薄型背照式CCD检测器确保了i-trometer™高量子效率(超过前照式30%多)和低噪声。相比于常规光谱仪，i-trometer™ 可以提供更高的检测灵敏度、更宽的动态范围，优异的量子效率(QE)和更高的信噪比（S/N）。i-trometer™ 采用即插即用USB数据传输方式，适应于高速数据传输需要。